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X熒光光譜儀EXF-7200

廠家負責人：尤先生            聯繫電話：13410777386

技術指標  

    分析範圍：1%～99.99% 

    測量時間：30～200秒 

    測量精度： ± 0.1% 

    測試環境：常溫常態  

    分析元素：金Au、銀Ag 、鉑Pt、鈀Pd、銠Rh 、釕Ru、銅Cu、鋅Zn、鎳Ni、鎘Cd

    X射線源：X射線光管  

    高壓器：4～50Kv 

    分析：多通道模擬  

    操作系統：Windows2000/Me/XP  

其它規格：  

    測量點尺寸：1～2mm 

 輸入電壓：100～127或200～240V,50/60 Hz 

    最大功率：128W 

    外形尺寸：長500mm*寬500mm*高350mm（最大處）

樣品室: 長400 mm×寬: 300mm×高: 0～90 mm樣品放大成像系統 

    重量：40kg 

環境溫度：15℃～30℃

環境濕度：35%～70%

硬件配置

光管：Mo靶的X光管 風冷 (斷電無輻射）  

高壓器：4～50KV

高低壓電源：100～127或200～240V,50/60 Hz

樣品室：長400 mm×寬300mm×高0～90 mm

檢測器：固定式半導體封氣正比計數器微處理器控制的檢測器和讀出電路

樣品放大成像裝置：帶十字光標紅外線定位系統

軟件：XRF菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算  

預啟動穩定系統

儀器系統參數液晶顯示屏：操作人員可隨時通過顯示屏，觀察到設備電壓﹑電流﹑溫度等，能有效延長設備壽命。