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高端x熒光高譜測金儀 1
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高端x熒光高譜測金儀

型號:9600s
品牌:西凡
原產地:中國
類別:電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器
標籤︰黃金檢測儀 , 貴金分析 , 測金儀
單價: -
最少訂量:1 台
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深圳市西凡謹頓科技有限公司

免費會員广东省深圳市
即時通訊:最後上線︰2012/05/08

產品描述

廠家負責人:尤濤

聯繫電話:13410777386

硬件獨特性:雙屏顯示設計,造型時尚專業,帶多節點預啟動裝置和實時監控系統;已集成計算機,無需再外接電腦,計算機採用觸屏設計,操作流暢便捷;加裝自動防輻射洩漏裝置,主動性的保証使用人員安全;內置打印機,計算報告方便快捷;獨具短信報錯功能,操作是否符合規範一目瞭然;超高的分辨率可輕鬆解決貴金屬行業無損分析的任何複雜要求,為貴金屬行業性價比最好的頂級光譜儀。

軟件優越性:XRF8.0菜單式軟件,帶硬件參數調整和數據評估及計算系統;軟件除能顯示金屬百分比純度外,亦可顯示黃金K值;軟件可自動重複檢測,自動測算多次檢測的均值;計算報告的打印格式多樣化,完全滿足客戶各種形式的打印要求。

激發源Mo靶的X光管風冷 (無輻射)

探測器:Si-PIN 探測器 

 

 

其它規格

電壓:交流220V/50Hz
最大功率:144W
最大處尺寸:430mm*635mm*310mm
重量:21kg

技術指標:

分析範圍:0.001% 99.999%
測量時間:自適應
測量精度:± 10ppm 0.1%

分辨率 149Kev ± 5
測試環境:常溫常態
分析元素:除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測試外,該型號還能對從NaU70多種元素進行分析,實為貴金屬行業常量分析中的實驗室級光譜儀。
X射線源:X射線光管
高壓器:450Kv
操作系統:Windows2000/Me/XP

鍍層測量:

鍍層厚度範圍<30μm
最大測量層數:5
測量精度:0.03μm

 

廠家負責人:尤先生TEL:134 1077 7386

 

注:可以舊換新,最高折價四萬


產品圖片

高端x熒光高譜測金儀 1
圖 1

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