首頁 > 產品信息 > 工業設備 > 其他工業設備

聲學顯微鏡C-SAM SAT  1
  • 聲學顯微鏡C-SAM SAT  1

聲學顯微鏡C-SAM SAT

型號:-
品牌:-
原產地:德國
類別:工業設備 / 其他工業設備
標籤︰C-SAM , 超聲波掃描顯微鏡 , 超聲波掃描
單價: -
最少訂量:1 件
發送查詢 添加到查詢籃

會員信息

詳細信息

科視中國有限公司

免費會員香港 特別行政區
即時通訊:最後上線︰2019/08/08

產品描述

C-SAM的叫法很多有掃描聲波顯微鏡或超聲波掃描顯微鏡或聲掃描顯微鏡(Scanning acoustic microscope 我司是德國)公司的超聲波掃描顯微鏡在中國地區的總代理(掃描頻率最高可以達到2G).掃描分辨率0.1微米.最小掃描範圍為0.25mm*0.25mm.   其主要是針對半導體器件 ,芯片,材料內部的失效分析.其可以檢查到:1.材料內部的晶格結構,雜質顆粒.夾雜物.沉澱物.2. 內部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等. 100M以上的頻率有絕對的優勝.能做其他品牌不能做的樣品.

代表客戶 廣達,長電,ST.美的,13所,清華大學,哈爾濱工業大學,環旭等

德國KSI超聲波掃描顯微鏡C-SAM(SAT)世界 的機器   
 PVA(KSI) 超聲波掃描顯微鏡 
1~500MHz 

● 非破坏性材料內部結構測試 
● 快速的超聲波頻率設置 
● 全新的操作軟件簡單易用 
● 緊湊的模塊化設計 
● 廣氾應用於半導體工業,材料測試,生命科學等領域 



非破坏性失效分析: 


視覺效果 定量分析 自動控制  
-3D形貌再現 
-同時觀察多個層面 
-顯示樣品的機械性能(硬度,密度,壓力等) 
-實時超聲波飛時圖表(A-Scan) 
-縱向截面圖像(B-Scan) 
-XY圖像(C-Scan, D-Scan, 自動掃描, 多層掃描) 
-第二個監視器便於圖像的觀察和操作 -失效統計 
-柱狀圖顯示 
-長度測量 
-膜厚測量 
-多方式圖像處理 
-超聲波傳輸時間測量 
-無損傷深度測量 
-數字信號分析 
-相位測量 -自動XYZ掃描 
-自動存儲儀器參數 
-運用分層運算方法進行自動失效鑑別 
-自動濾波參數設置 
-換能器自動聚焦 
-高分辨率下自動進行高速掃描   

SAM300 性能參數: 
● 頻率範圍:1~500MHz 
● 換能器選擇:5~400MHz 
● 掃描範圍:0.25×0.25mm~320×320mm 
● 掃描速度:1500mm/秒 
● 掃描機構分辨率:0.1μm 
● 掃描模式:A, B,C,D, G, X, 3D 
● 射頻增益80dB 
● 最小門限時間1ns 
● FFT 
● 阻抗測量,偽彩色表示 
● 圖像輸出可保存為BMP及SAM格式 
● KSI掃描操作軟件(Windows 2000 Prof. 或Windows XP操作系統),SIS圖像分析軟件包  
● CD-RW 
● 儀器尺寸:200×65×130cm 


 clack wu 13826576722 szwkk3@188.com 
歡迎索取資料哦。四海內皆朋友 


產品圖片

聲學顯微鏡C-SAM SAT  1
圖 1

向該會員發送查詢

科視中國有限公司

中國深圳市福田中航路7號

電話︰
86-1382-6576722
傳真︰
852
聯繫人︰
WU d (經理)
手機︰
13826576722

該公司相關產品信息

免責聲明:以上信息由企業自行提供,內容的真實性和合法性由發布企業負責。「自助貿易」對此不承擔任何保証責任。
舉報投訴:如發現違法和不良資訊,請 點此處舉報

中國供應商快速搜索︰

"其他工業設備" 產品信息

"其他工業設備" 供應商