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超聲掃描檢測儀 1
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超聲掃描檢測儀

型號:-
品牌:-
原產地:德國
類別:工業設備 / 其他工業設備
標籤︰超聲波掃描顯微鏡 , c-sam , D9500
單價: -
最少訂量:-
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科視中國有限公司

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總代理)超聲波掃描顯微鏡世界 的測試設備C-SAM(SAT)測試 器件失效分析


C-SAM的叫法很多有掃描聲波顯微鏡或超聲波掃描顯微鏡或聲掃描顯微鏡(Scanning acoustic microscope

我司是德國公司的超聲波掃描顯微鏡在中國地區的總代理(掃描頻率最高可以達到2G).掃描分辨率0.1微米.最小掃描範圍為0.25mm*0.25mm. 其主要是針對半導體器件 ,芯片,材料內部的失效分析.其可以檢查到:1.材料內部的晶格結構,雜質顆粒.夾雜物.沉澱物.2. 內部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等. 100M以上的頻率有絕對的優勝.能做其他品牌不能做的樣品.

代表客戶 廣達,長電,ST.美的,13所,清華大學,哈爾濱工業大學,環旭,航天625所,771所等

德國KSI超聲波掃描顯微鏡C-SAM(SAT)世界 的機器 
SAM300 超聲波掃描顯微鏡
1~500MHz

● 非破坏性材料內部結構測試
● 快速的超聲波頻率設置
● 全新的操作軟件簡單易用
● 緊湊的模塊化設計
● 廣氾應用於半導體工業,材料測試,生命科學等領域



非破坏性失效分析:


視覺效果 定量分析 自動控制
-3D形貌再現
-同時觀察多個層面
-顯示樣品的機械性能(硬度,密度,壓力等)
-實時超聲波飛時圖表(A-Scan)
-縱向截面圖像(B-Scan)
-XY圖像(C-Scan, D-Scan, 自動掃描, 多層掃描)
-第二個監視器便於圖像的觀察和操作 -失效統計
-柱狀圖顯示
-長度測量
-膜厚測量
-多方式圖像處理
-超聲波傳輸時間測量
-無損傷深度測量
-數字信號分析
-相位測量 -自動XYZ掃描
-自動存儲儀器參數
-運用分層運算方法進行自動失效鑑別
-自動濾波參數設置
-換能器自動聚焦
-高分辨率下自動進行高速掃描

主要應用範圍:
· 晶元面處脫層
· 錫球、晶元、或填膠中之裂縫
· 晶元傾斜
· 各種可能之孔洞(晶元接合面、錫球、填膠…等)
· 覆晶構裝之分析


C-SAM的主要特性:
非破坏性、無損傷檢測內部結構
可分層掃描、多層掃描
實施、直觀的圖像及分析
缺陷的測量及百分比的計算
可顯示材料內部的三維圖像
對人體是沒有傷害的
可檢測各種缺陷(裂紋、分層、夾雜物、附着物、空洞、孔洞、晶界邊界等)

C-SAM的主要應用領域:
半導體電子行業:半導體晶圓片、封裝器件、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;
材料行業:復合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等;
生物醫學:活體細胞動態研究、骨骼、血管的研究等;

clack wu 13826576722   szwkk3@188.com
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超聲掃描檢測儀 1
圖 1

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