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X射線膜厚測試儀，有着非破坏，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點，在質量管理到不良品分析有着廣氾的應用。用於電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業。
主要特點
樣品種類：鍍層、塗層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素範圍：13 – 92號元素
可同時測定5層/15種元素
精度高、穩定性好
強大的數據統計、處理功能
測量範圍寬
NIST認証的標準片
全球服務及支持
技術參數
主要規格  規格描述 
X射線激發系統  垂直上照式X射線光學系統 
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 
標準靶材：微聚焦型W靶鈹窗X射線管功率50W

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準     

裝備有安全防射線光閘 
准直器程控交換系統  最多可同時裝配4種規格的准直器 
－樣品室結構  開槽式樣品室  開閉式樣品室 
－樣品觀察系統  高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。 
激光自動對焦功能 
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 
計算機系統配置  I5計算機 惠普或愛普生彩色噴墨打印機 
分析應用軟件  操作系統：Windows7中文平台 分析軟件包： FP軟件包 
－測厚範圍  可測定厚度範圍：取決于您的具體應用。 
－基本分析功能  採用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。