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美國THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層測厚儀標準片 

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業用於測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度的時候進行標準化校準.也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量和強度及相應鍍層厚度的對應關係，來得到標準曲線。之後以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對於PCB,五金電鍍,半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控製成本起到了很重要的作用。

測厚儀標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學鍍層片。如:

單鍍層：Ag/xx, 雙鍍層：Au/Ni/xx , 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層：Sn-Pb/xx, 化學鍍層：Ni-P/xx.

我們可以根據客戶不同的金屬元素,鍍層結構,鍍層厚度等要求向美國工廠定做標準片,並可出據標準片厚度值証書.