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鍍層測厚儀 1鍍層測厚儀 2
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鍍層測厚儀

型號:XRF-2000PCB
品牌:micro pioneer
原產地:韓國
類別:工業設備 / 其他工業設備
標籤︰測厚儀 , 膜厚儀 , 鍍層測厚儀
單價: ¥100000 / 件
最少訂量:1 件
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深圳微科泰儀器儀表有限公司

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即時通訊:点击这里给我发消息最後上線︰2023/02/03

產品描述

 韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列X射線測厚儀

XRF-2000能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能優越,而且價錢超值,同比其他牌子相同配置的機器,XRF-2000能為您大大節省成本。只需數秒鐘時間,便能非破坏性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品台,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整。超大/開放式的樣品台,可測量較大的產品。是PCB線路板、五金電鍍、連接器端子等行業的首選。可測量各類金屬層、合金層厚度等。

 

可測元素範圍:(Ti) – (U) 原子序 22 – 92

 

准直器:1固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.4mm

2、馬達驅動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.3mm

電腦系統:聯想品牌電腦,17寸液晶顯示器,WINDOWS 7操作系統惠普彩色打印機

 

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統計功能

 

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

 

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),

單的核對方式,無需購買標準藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,並可定量分析成分含量.

 

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.


產品圖片

鍍層測厚儀 1
圖 1
鍍層測厚儀 2
圖 2

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