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PCT飽和高壓加速老化試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置於嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣氾應用於線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。http://www.riukai.com

加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。

滿足標準：http://www.riukai.com/products_show.asp?id=17

1．IEC60068-2-66

2．JESD22-A102-B

3．EIAJED4701 http://www.riukai.com/products_show.asp?id=62

4．EIA/JESD22

及指定的試驗條件。 

特點優勢：   http://www.riukai.com/products_show.asp?id=38       

1．試驗過程自動運轉至完成結束,使用簡便。

2．三重壓力安全保護裝置，採用控制器內部兩段式超溫保護+機械式壓力安全保護裝置。

3．雙重過熱保護裝置：當鍋內溫度過高時，機器鳴叫警報並自動切斷加熱電源。

4．安全閥：當鍋內壓力超過最大工作值自動排氣泄壓。

5．門蓋保護：特製材質製成可防止操作人員接觸燙傷，一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長.

6．機台異常關閉全機停電處理及故障提示。

7．獨家採用全自動補充水位（水箱供水）之功能, 試驗永不中斷.

壓力與溫度對照表：http://www.riukai.com/products_show.asp?id=24

100%飽和濕度狀態下。