產品描述
簡單介紹
表面的彎曲、傾斜、粗糙程度與波紋度相互影響，對於需要同時測量尺寸、形狀與表 面粗糙度的場合，便攜式表面粗糙度輪廓測量儀FTS Intra提供了一次性測量的解決方法。 通過測針在測量表面上的一次測量，來評估這些元素。
表面粗糙度輪廓測量儀 的詳細介紹
表面粗糙度輪廓測量儀
表面的彎曲、傾斜、粗糙程度與波紋度相互影響，對於需要同時測量尺寸、形狀與表 面粗糙度的場合，便攜式表面粗糙度輪廓測量儀FTS Intra提供了一次性測量的解決方法。 通過測針在測量表面上的一次測量，來評估這些元素。
品質保証 承續了泰勒霍普森產品家族里的優秀品質，
便攜式表面粗糙度輪廓測量儀 FTS Intra 仿佛一位 優秀的表面測量工程師，在任何你需要的場合， 給您提供最好的支持。
簡單便攜
FTS Intra 既可以通過 PDA 控制處理器攜帶到 任何工作場合去工作，控制分析單元對驅動單元可 連線控制，也可紅外遙控；也可以通過與電腦的對 接，測量的數據直接傳輸至計算機，由 Ultra 軟件 對儀器進行控制及對測量數據的分析。作為標準計 量室內的檢測設備。
我們可以非常容易地把它從計量室帶到工作地 點，即使是臨時的操作員也可以非常簡單地進行操 作，並得到精確的測量結果。當然，由於完美的設 計，簡而易行的操作，您幾乎不用妨礙到生產的進 度，就可以非常完美地完成這些您所需要的表面形 狀與粗糙度的檢測。
評定參數
(1) 粗糙度參數： Ra、Rq、Rp、Rv、Rt、Rsk、Rku、Rz、Rz(JIS)、Rpm、R3y、R3z、RS、RSm、Rdela、 Rlamq、RDelq、Rvo、RPc、RHSC、Rmr、Rdc
(2) 波紋度參數： Wa、Wq、Wp、Wv、Wt、Wsk、Wku、Wz、WLamq、WDelq、WDela、WS、WSrm、 Ln、Wc、Wlo、WVo、WPc、WHSC、Wmr、Wdc
(3) 未濾波參數： Pa、Pq、Pv、Pt、Psk、Pp、Pku、Pz(JIS)、PLamq、PDelq、PS、PSm、Pz、Pdela、 Ln、PLo、Pc、PVo、PPc、PHSC、Pmr、Pdc
(4) Rk 參數： Rk、Mrl、Mr2、Rpk、Rvk、A1、A2
(5) 輪廓功能： 半徑和角度 Slope(指被測直線與水平測量基準的夾角)
選擇合適的產品
簡單的粗糙度的測量（如 Ra 等），可以通過泰勒霍普森家族產品系 列
的Surtronic 系列來檢測。如果您需要更先進的分析，更高的測量及分 析水平與操作的靈活性，FTS Intra 是完美且經濟的選擇。
如果您需要更高級別的產品，請參考我公司表面粗糙度輪廓測量儀 系列之 FTSS 與 PGI 產品。
產品圖片
圖 1
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