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自動光反射膜厚測試儀 1
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自動光反射膜厚測試儀

型號：NanoSpec II
品牌：NANOMETRICS
原產地：美國
類別：電子、電力 / 儀器、儀表 / 電子測量儀器
標籤︰可見光 , 膜厚測試儀 , 光斑量程
單價： -
最少訂量：1 件
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德儀國際貿易（上海）有限公司

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自動wafer對位，自動對焦
光斑：紫外到可見光：14um，可見光40um
量程：
- 30nm-120um
- 可見光20nm-30um
- UV-可見光 3nm-10um


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自動光反射膜厚測試儀 1
圖 1

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