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貴金屬分析儀EXF9600

型號:EXF9600
品牌:西凡
原產地:中國
類別:電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器
標籤︰貴金屬分析儀 , 測金儀 , 光譜儀
單價: -
最少訂量:1 件
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西凡仪器(深圳)有限公司

免費會員广东省深圳市
最後上線︰2024/01/25

產品描述

硬件獨特性:雙屏顯示設計,造型時尚專業,帶多節點預啟動裝置和實時監控系統;已集成計算機,無需再外接電腦,計算機採用觸屏設計,操作流暢便捷;加裝自動防輻射洩漏裝置,主動性的保証使用人員安全;內置打印機,計算報告方便快捷;獨具短信報錯功能,操作是否符合規範一目瞭然;超高的分辨率可輕鬆解決貴金屬行業無損分析的任何複雜要求,為貴金屬行業性價比最好的頂級光譜儀。

軟件優越性:全新菜單式軟件,帶硬件參數調整和數據評估及計算系統;軟件除能顯示金屬百分比純度外,亦可顯示黃金K值;軟件可自動重複檢測,自動測算多次檢測的均值;獨具全局故障判斷功能;計算報告的打印格式多樣化,完全滿足客戶各種形式的打印要求。

激發源Mo靶的X光管 風冷 (無輻射)

探測器:Si-PIN 探測器 (美國進口)  145Kev ± 5

高壓裝置:0—50KV

 

 

 

其它規格

電壓:交流220V/50Hz
最大功率:144W
最大處尺寸:650mm*450mm*340mm
重量:32kg

技術指標:

分析範圍:0.001% ~ 99.999%
測量時間:自適應
測量精度:± 10ppm ~ 0.1%

分辨率  :145Kev ± 5
測試環境:常溫常態
分析元素:除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測試外,該型號還能對從Na至U的70多種元素進行分析,實為貴金屬行業常量分析中的實驗室級光譜儀。
X射線源:X射線光管
高壓器:0~50Kv
操作系統:Windows2000/Me/XP

鍍層測量:

鍍層厚度範圍<30μm
最大測量層數:5層
測量精度:0.03μm


產品圖片

貴金屬分析儀EXF9600 1
圖 1
貴金屬分析儀EXF9600 2
圖 2
貴金屬分析儀EXF9600 3
圖 3

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