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X熒光鍍層測厚儀 CMI900系列 1X熒光鍍層測厚儀 CMI900系列 2
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X熒光鍍層測厚儀 CMI900系列

型號:CMI900
品牌:牛津
原產地:美國
類別:電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器
標籤︰X熒光鍍層測厚儀 , 牛津膜厚儀 , 線路板膜厚儀
單價: ¥200000 / 件
最少訂量:1 件
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深圳市鼎極天電子有限公司

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即時通訊:最後上線︰2014/02/18

產品描述

應用

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀,有着非破坏,非接觸,多層合金測量,高生產力,高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量  ,從質

量管理到成本節約有着廣氾的應用。

行業

用於電子元器件,半導體,PCB,LED支架,五金電鍍,連接器等……多個行業表面鍍層厚度的測量。

技術參數

主要規格                           規格描述
 
X射線激發系統                   垂直上照式X射線光學系統
 
                                       空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
 
                                       標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
 
                                       功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準

                                        75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選
 
                                       裝備有安全防射線光閘
 
                                       二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
 
准直器程控交換系統            最多可同時裝配6種規格的准直器
 
                                       多種規格尺寸准直器任選:

                                       -圓形,如4、6、8、12、20 mil等

                                       -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測量斑點尺寸                     在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
 
                                       在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
 
樣品室

-樣品室結構                      開槽式樣品室
 
-最大樣品台尺寸                610mm x 610mm
 
-XY軸程控移動範圍            標準:152.4 x 177.8mm
                                        還有5種規格任選
 
-Z軸程控移動高度               43.18mm
 
-XYZ三軸控制方式              多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
 
-樣品觀察系統                    高分辨彩色CCD觀察系統,標準放大倍數為30倍。(50倍和100倍觀察系統任選。)

                                          激光自動對焦功能

                                         可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
 
計算機系統配置                    IBM計算機

                                         惠普或愛普生或佳能彩色噴墨打印機
 
分析應用軟件                       操作系統:WindowsXP(OEM)中文平台

分析軟件包:                       SmartLink FP軟件包
 
-測厚範圍                          可測定厚度範圍:取決于您的具體應用。
 
-基本分析功能                   採用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
 
樣品種類:                          鍍層、塗層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
 
                                         可檢測元素範圍:Ti22 – U92
 
                                         可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
 
                                         貴金屬檢測,如Au karat評價
 
                                         材料和合金元素分析,
 
                                         材料鑑別和分類檢測
 
                                         液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量
 
                                         多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
 
                                         元素光譜定性分析
 
-調整和校正功能                 系統自動調整和校正功能,自動消除系統漂移
 
-測量自動化功能                 鼠標激活測量模式:“Point and Shoot”
 
                                         多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重複測量模式
 
                                         測量位置預覽功能
 
                                         激光對焦和自動對焦功能
 
-樣品台程控功能                 設定測量點
 
                                         連續多點測量
 
                                         測量位置預覽
 
-統計計算功能                    平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動範圍、

                                         數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
 
                                         數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
 
                                         數據庫存儲功能
 
                                         任選軟件:統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
 
-系統安全監測功能              Z軸保護傳感器
 
                                         樣品室門開閉傳感器
 


●精度高、穩定性好

●強大的數據統計、處理功能

●測量範圍寬

●NIST認証的標準片

●全球服務及支持

生產廠商:牛津儀器


產品圖片

X熒光鍍層測厚儀 CMI900系列 1
圖 1
X熒光鍍層測厚儀 CMI900系列 2
圖 2

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