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WB－200型引伸計標定儀是一種純機械式的高精度位移測微儀器。依據JJG762－92引伸計檢定規程要求，專門用於對各類引伸計的標定，也廣氾用於位移傳感器的檢定及相應百分表、千分表的檢定。

 產品簡介

WB－200型引伸計標定儀由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進行多種規格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試特殊需要，配置專用配件進行精密微變形量計量。

精密微分測頭由滑動量杆、量杆套筒、讀數內筒、讀數外筒及高精密螺紋付組成。其最大量程25㎜；最小分度（游標分度）0.0002㎜；旋轉外筒分度0.002㎜。

位移變化讀數為：L=（a+0.001b+0.0001c）-（a0+0.001b0+0.001c0）

其中：a－內筒毫米刻線讀數；      b－外筒刻線讀數

      c－游標刻線讀數；          a0 b0 c0　為相應位移變化前讀數

        技術規格

1、測量引伸計標距範圍Ｌmax：   500㎜

2、測量支座上支臂安裝孔徑：    φ10；φ28

3、微分測頭讀數內筒軸向刻度：  0.5㎜/格

4、微分測頭讀數內筒游標刻度：  0.0002㎜/格

5、微分測頭讀數外筒圓周刻度：  0.002㎜/格

6、高精密微分測頭精度指標

量程0.5㎜以內≤0.5μm    絕對誤差

量程0.5㎜以上≤0.1%     逐點相對誤差