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功能用途：鍍層厚度分析、 物質元素含量分析 以下報價，以賣方最後確認為準。 技術指標型號： TX-200 元素分析範圍： 鋁（Al）－鈾（U）可測鍍層數： 最多可達5層鍍層種類： 單金屬鍍層、合金鍍層、無機薄膜鍍層識別精度： 0.01um 厚度相對誤差： 單層5%，多層5～10% 厚度測試範圍： 輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um 中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um 重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um 多道分析器： 2048道外型尺寸： 650mm×550mm×350mm 測量倉： 220mm×200mm×150mm 重量： 60Kg 測試時間： 60～200秒 標準配置配置 數量 單位儀器硬件部分主要配置 1 套 1. Si-PIN半導體探測器（採用美國原裝進口） 1 　　套 2. 低功率高效X光管（採用英國原裝） 1 　　個 3. 高壓電源 1 　　個 4. 2048道數字多道分析器（採用美國原裝進口） 1 　　套 5. 高精密CCD 1 　　個 6. 濾光片組 5 　　組 7. 准直器：直徑為0.2 , 0.5 , 1 , 2 , 6 , 8mm的准直器各一個 6 　　個儀器外圍配置 　　計算機：內存1 GB/硬盤150G/光驅24 X DVD/顯示器17’LCD Monitor 1 台 2. 彩色噴墨打印機 1 台 3. 校正片 1 片軟件配置 鍍層厚度分析軟件 1 套元素分析軟件 1 套