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ba100膜厚測試儀

膜厚測試儀|膜厚儀|無損膜厚測試儀是用於測量金屬鍍層的厚度,可測量無損測量多至四層合金膜厚,應用於五金、電子、PCB線路板、珠寶首飾、汽車配件等行業的金屬厚度測量及成份分析.全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，儀器小巧,是一款桌面式的測量儀器,使儀器操作更人性化、更方便。

美國膜厚測試儀|膜厚儀|無損膜厚測試儀應用方面:
罩性金屬鍍層厚度測量，  例如Zn；Cr；  Cu；  Ag；  Au；Sn等  合金(兩樣金屬元素)鍍層厚度測量，  例如：  SnPb；  ZnNi；  及NiP(無電浸鎳)在Fe上等
合金(三檬金屬元素)鍍層厚度測量，  例如：  AuCuCd在Ni上等
雙鍍層厚度測量，  例如：Au／Ni在Cu  上；  Cr／Ni在Cu上；Au／Aq在Ni上；Sn／Cu在黃銅上等
雙鍍層厚度測量(其中一層是合金層)，  例如：  SnPb／Ni或Au／PdNi在青銅上等
三鍍層，  例如：  Cr／Ni／Cu在塑膠或在鐵上
金屬成份分析，  最多可以分析四種金屬元素

美國膜厚測試儀|膜厚儀|無損膜厚測試儀樣品台選擇：
採用開槽式樣品室，以方便對大麵積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品台供用戶選用，分別為：
一：手動樣品台
1 標準樣品台：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2 擴展型標準樣品台：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
3 可調高度型標準樣品台：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

二：自動樣品台
1  程控樣品台：XYZ軸自動控制。
2  超寬程控樣品台：XYZ軸自動控制。

膜厚測試儀的詳細參數請來電咨詢

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