型號: | P3 |
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品牌: | NANOVEA |
原產地: | 美國 |
類別: | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器 |
標籤︰ | 三維表面形貌儀 , 三維表面輪廓儀 , 粗糙度 |
單價: |
¥500000
/ 台
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最少訂量: | 1 台 |
最後上線︰2017/03/31 |
產品簡介:
P3型全自動粗糙度測量儀是一款非接觸式粗糙度測量儀,採用國際領先的白光共聚焦技術,可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,符合國際標準ISO25178,用於取代傳統的接觸式探針型粗糙度測量儀。測量範圍廣,可測透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、塗層、塗料、漆、紙、皮膚、頭髮、牙齒等任意樣品,不收材料形狀及顏色的限制。
產品特性:
1. 測量具有非破坏性:採用白光共聚焦技術,可獲得納米級分辨率
2. 測量範圍大:15mm×15mm,無需進行圖像拼接
3. 可測樣品的最大坡度:87oC
4. 測量範圍廣:可測平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、拋光、粗糙樣品
5. 不受環境光的影響
6. 不受樣品反射率與形狀的影響
7. 操作簡單:樣品無需特殊處理優于傳統的探針技術與干涉技術形貌儀
主要技術參數:
1,掃描範圍:1×1,2×2,3×3,4×4,5×5,10×10,15×15(mm)
2, 掃描步長:1×1,2×2,5×5(μm)
3,Z方向測量範圍:300μm
4,Z方向測量分辨率:8nm
5,Z方向測量精度:60nm
6,橫向光學分辨率:2.6μm
產品應用:
MEMS、半導體材料、太陽能電池、醫療工程、製藥、生物材料,光學元件、陶瓷和先進材料的研發
聯繫人:劉蕊 聯繫方式:010-53203403
13933947304
15652958313
網址:www.mnt-china.cn 微納(香港)科技有限公司
付款方式︰ | LC/TT |
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