型號: | CCI HD |
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品牌: | 泰勒霍普森 |
原產地: | 英國 |
類別: | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器 |
標籤︰ | 泰勒非接觸輪廓儀 , 泰勒霍普森總代理 , 泰勒霍普森辦事處 |
單價: |
¥1
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最少訂量: | 1 件 |
最後上線︰2016/11/17 |
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泰勒霍普非接觸式光學3D輪廓儀CCI HD產品概述:
CCI HD 是一種非接觸式光學 3D 輪廓儀,具有測量薄膜和厚膜的功能。 它採用享有專利的新型關聯算法,來查找由我們的精密光學掃描裝置產生的干涉圖的相幹峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界領先的非接觸式尺寸測量功能和先進的厚薄膜測量技術。
CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測量功能,還可以提供兩種類型的膜厚測量。 近年來厚膜分析被用於研究厚度至約 1.5 微米的半透明塗料;測量的厚度限制取決于材料的折射率和標的物的 NA。 測量較薄的塗層被証實為難度更高。
現在通過干涉測量法可以研究厚度至 50 納米(同樣取決于折射率)的薄膜塗層。 採用這種新型方法,可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄塗層表面的剝離等特性。
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