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相位差測量儀PA-300-MT 1
  • 相位差測量儀PA-300-MT 1

相位差測量儀PA-300-MT

型號:PA-300-MT
品牌:PHL
原產地:日本
類別:電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器
標籤︰內應力測量 , 相位差測量 , 雙折射測量
單價: -
最少訂量:1 件
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北京欧屹科技有限公司

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產品描述

PA-300-MT

主要特點:
 

  • 操作簡單,測量速度可以快到3秒;
  • 視野範圍內可一次測量,測量範圍廣;
  • 更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點;
  • 具有多種分析功能和測量結果的比較;
  • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構;
  • 高達2056x2464像素的偏振相機。


應用領域

  • 小尺寸樣品專用
  • 光學鏡頭


主要技術參數: 

  項次            項目             具體參數
1 輸出項目           相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】
 
2 測量波長 520nm
 
3 雙折射測量範圍 0-130nm
 
4 測量最小分辨率 0.001nm
 
5 測量重複精度 <1nm(西格瑪)
 
6 視野尺寸 17.5x21mm到33x40mm(標準)
 
7 選配鏡頭視野 6.3x7.5mm
 
8 選配功能                 實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制


測量案例:
复印机镜头测量蓝宝石测量单反相机镜头测量

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產品圖片

相位差測量儀PA-300-MT 1
圖 1

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