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相位差測量系統WPA-200-XL 1
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相位差測量系統WPA-200-XL

型號:WPA-200-XL
品牌:phl
原產地:日本
類別:電子、電力 / 儀器、儀表 / 其他儀器、儀表
標籤︰雙折射測量 , 內應力測量 , 相位差測量
單價: -
最少訂量:1 件
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北京欧屹科技有限公司

免費會員北京市昌平区
最後上線︰2020/04/20

產品描述

WPA-200-XL

主要特點

  • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。 
  • 採用CCD Camera,視野範圍內可一次測量,測量範圍廣。
  • 測量數據是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數據。
  • 具有多種分析功能和測量結果的比較。
  • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。


主要應用:

  • 光學零件(鏡片、薄膜、導光板)
  • 透明成型品(車載透明零件、食用品容器)
  • 高分子材料(PET PVA COP ACRYL PC COC PMMA)
  • 透明基板(玻璃、石英、藍寶石、單結晶鑽石)

  

 技術參數:

項次

項目

具體參數

1

輸出項目

相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa

 

2

測量波長

520nm543nm575nm

 

3

雙折射測量範圍

0-3500nm

 

4

測量最小分辨率

0.001nm

 

5

測量重複精度

<1nm(西格瑪)

 

6

視野尺寸

218x290mm-360×480mm(標準)

 

7

選配鏡頭視野

無選配

 

8

選配功能

實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制,CD模式


測量案例:



 


產品圖片

相位差測量系統WPA-200-XL 1
圖 1

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