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online內應力雙折射測量儀KAMAKIRI W 1
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online內應力雙折射測量儀KAMAKIRI W

型號:KAMAKIRI W
品牌:Photonic Lattice
原產地:日本
類別:電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器
標籤︰雙折射測量系統 , 內應力測量 , 相位差測量
單價: -
最少訂量:1 件
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北京欧屹科技有限公司

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即時通訊:最後上線︰2020/04/20

產品描述

       Photron集團公司是日本大型相機,視頻,軟件控制供應商,其旗下的高速/超高速攝像機業務應用非常廣氾,歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘餘應力測量設備,其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片完美結合,研製在線雙折射/殘餘應力測量儀,世界上僅有KAMAKIRI可以提供,廣氾應用於光學薄膜,PVA,PC,COP和TAC等領域。

 

主要特點:

  • 適用於薄膜等生產線上,實現各個環節的雙折射測量
  • LIVE實時輸出雙折射的信息
  • OK/NG可以在執行Live監測的同時對異常點發出警報
  • 操作簡單,可以調整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布
  • 實時記錄雙折射的數值數據,以進行進一步詳細分析。
  • 可以通過在系統中增加偏光感應器來擴展測量的寬度。 

 

應用領域:

  • 相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC
  • 保護薄膜(PET/PEN/PS/PI
  • 樹脂成型
  • 玻璃 

 

朮參數:   

項次

項目

具體參數

1

輸出項目

相位差【nm】,軸方向【°】

 

2

測量波長

520nm

 

3

雙折射測量範圍

0-130nm/0-260nm(選配)

 

4

主軸方位範圍

0-180°

 

5

測量重複精度

<1nm(西格瑪)

 

6

測量寬度尺寸

350mm

 

7

寬度方向測量點

2560

 














 





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產品圖片

online內應力雙折射測量儀KAMAKIRI W 1
圖 1

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