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德國布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重複性和分辨率，測量重複性可以達到5Å。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術，更加鞏固了其行業地位。不論應用於研發還是產品測量，通過在研究工作中的廣氾使用，DektakXT能夠做到功能更強大，操作更簡易，檢測過程和數據採集更完善。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣氾的應用於微電子器件，半導體，電池，高亮度發光二極管的研發以及材料科學領域。

臺階儀Dektak XT能實現：

*使用溫度條件：10-30℃；濕度：≤80，無冷凝

*無可匹敵的性能，臺階高度重現性低於4埃

*Single-arch設計提供具突破性的掃描穩定性

*先進的“智能電子器件”設立了新低噪音基準

*新硬件配置使數據採集時間縮短40

*64-bit，Vision64同步數據處理軟件，使數據分析速度提高了10倍

*頻率，操作簡易

*直觀的Vision64用戶界面，操作簡易

*針尖自動校準系統

*布魯克（Bruker）以實惠的配置實現高的性能

*單傳感器設計，提供單一平面上低作用和寬掃描範圍

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