型號: | YC-659M |
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品牌: | 益測 |
原產地: | 中國 |
類別: | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 電子測量儀器 |
標籤︰ | - |
單價: |
¥3600
/ 件
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最少訂量: | 1 件 |
最後上線︰2021/12/03 |
USB數據線高級測試儀YC-659M使用說明書
首次支持USB數據通信測試、C-C2.0數據線
史上強大、準確的蘋果數據線測試儀,業界權威,雙面測試,單頭測試,0-3A電流實測,D+D-漏電阻檢測,靜態電流、限流、短路電流、短路保護、過壓保護,支持C48、E75、C68A、C52、C89、C91、C94、蘋果安卓3合1線、蘋果安卓1拖3線、 C-C2.0線、帶HUB數據線。
【符號說明】
1、A = USB-A, C = Type-C, L = Lightning,M = Micro
2、A-L:USB-A公轉Lightning數據線。
3、A-C:USB-A公轉Type-C數據線。
4、A-M:USB-A公轉Micro數據線。
5、C-C:Type-C轉Type-C數據線。
【YC-659M與YG-629M的區別】
YC-659M是YG-629M的升級版,在YG-629M的基礎上做了以下几項重要改進:
3、支持C-C 2.0帶E-Marker的數據線。NEW
4、Type-C口支持PD協議輸出。NEW
5、測試性能、測試精度都得到提高。
【簡介】
手機已成為最為流行的電子產品,各種外圍產品也幸運而生,本公司立志為廣大外設廠家服務,適時推出相應的檢測設備,為您提高生產效率,為您的品質保駕護航。本產品為一款多功能的數據線測試儀器,適用於研發和批量生產環節。
【功能特點】
※ 5寸IPS高清觸模電容屏。
※ 同時有聲音測試結果。
※ 設置的測試文件可掉電保存。
※ 可以連接電腦,有PC軟件,實現更多功能,也可單獨使用。
※ 通過PC軟件對蘋果協議數據抓取。
※ 支持中文、繁體、英文。
※ 可以在線升級,使儀器隨時擁最新的功能,如果儀器有問題,可使用在線升級經松解決,不必返廠。
【YC-659M支持產品列表】
數據線類:
充電線類:
單頭類:
【檢測項目】
檢測項目 |
檢測內容 |
蘋果數據線C48、E75、C89 |
蘋果快充數據線C94 |
A-M數據線含OPPO |
A-C數據線含OPPO |
C-C 2.0帶E-Marker |
不良原因 |
空載電壓 |
輸出電壓是否達標 |
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電源線開路或Lightning頭損坏 |
靜態電流 |
蘋果頭、數據線本身耗電 |
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電源線短路、漏電或MOS管坏 |
輕負載電壓 |
輸出電壓是否合格 |
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電源線開路或Lightning頭損坏 |
重負載電壓 |
輸出電壓是否合格,以檢測出數據線內阻、壓降是否達標 |
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電源線開路或Lightning頭損坏,線材或插頭內阻過大 |
過壓保護 |
當線上電壓過高時,蘋果頭是否會關閉輸出,原裝線過壓保護一般是6.35V左右 |
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MOS管損坏、漏電,非原裝MOS管 |
最大電流 |
指定壓降條件下線材能過的最大電流 |
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線材或插頭內阻過大 |
C68-AP線 |
C68、C78的3.3V輸出線是否正常 |
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AP線開路、或和其它線短路 |
Gnd線 |
單獨檢測地線連接是否正常 |
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地線開路 |
D+ |
連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻 |
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D+線開路、短路、漏電,虛焊內阻過大 |
D- |
連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻 |
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D-線開路、短路、漏電,虛焊內阻過大 |
USB數據通信 |
全速、高速USB2.0傳輸 |
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D+D-問題,HUB芯片不良,兼容性問題 |
主端D+D-電壓 |
一些特殊數據線需要單獨檢測主端D+D- |
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相關線開路短路、電阻不良 |
主端鐵殼 |
懸空、接VCC、接GND、直通 |
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連接不正確 |
從端鐵殼 |
懸空、接VCC、接GND、直通 |
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連接不正確 |
芯片協議DQ |
通信、普通認証、動態認証、版本、序列號 |
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主控芯片、動態芯片損坏、虛焊、未寫碼 |
VOOC協議 |
檢測VOOC認証 |
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認証芯片損坏、虛焊 |
DQ腳電平 |
IC協議通信腳的高低電平是否符合要求 |
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主控芯片不良,部分損坏 |
Hi5cc |
檢測Hi5cc電流是否正常 |
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主控芯片不良,部分損坏 |
MSN/ASN |
已寫/未寫 |
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未寫碼 |
MOS管 |
是否可正常控制、開路、短路,是否有輸出短路保護功能 |
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MOS管開路、短路、非原裝MOS管,金手指開路 |
待機空載電壓 |
待機電壓是否正常 |
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MOS管損坏,山寨頭100歐電阻虛焊 |
待機帶載電壓 |
待機帶載電壓是否正常 |
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MOS管損坏,關不死 |
待機限流 |
待機時給3.5V電池充電電流 |
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MOS管損坏,關不死 |
短路電流 |
待機時輸出端短路電流 |
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MOS管損坏 |
CC線 |
快充線CC線是否連通 |
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CC線開路,虛焊 |
CC電阻 |
CC線上的Rd,Rp連接方式、電阻阻值 |
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插頭不良 |
E-Marker |
讀碼 |
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芯片、CC線、插頭腳開短路 |
IC方案 |
檢測蘋果頭中所用的芯片方案 |
Lightning |
Lightning |
OPPO芯片方案 |
OPPO芯片方案 |
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芯片方案不對 |
搖擺測試 |
檢查線材搖擺瞬間有無開短路等 |
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虛焊 |
【檢測項目】
檢測項目 |
檢測內容 |
蘋果數據線C48、E75、C89 |
蘋果快充數據線C94 |
A-M數據線含OPPO |
A-C數據線含OPPO |
C-C 2.0帶E-Marker |
不良原因 |
空載電壓 |
輸出電壓是否達標 |
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電源線開路或Lightning頭損坏 |
靜態電流 |
蘋果頭、數據線本身耗電 |
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電源線短路、漏電或MOS管坏 |
輕負載電壓 |
輸出電壓是否合格 |
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電源線開路或Lightning頭損坏 |
重負載電壓 |
輸出電壓是否合格,以檢測出數據線內阻、壓降是否達標 |
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電源線開路或Lightning頭損坏,線材或插頭內阻過大 |
過壓保護 |
當線上電壓過高時,蘋果頭是否會關閉輸出,原裝線過壓保護一般是6.35V左右 |
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MOS管損坏、漏電,非原裝MOS管 |
最大電流 |
指定壓降條件下線材能過的最大電流 |
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線材或插頭內阻過大 |
C68-AP線 |
C68、C78的3.3V輸出線是否正常 |
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AP線開路、或和其它線短路 |
Gnd線 |
單獨檢測地線連接是否正常 |
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地線開路 |
D+ |
連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻 |
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D+線開路、短路、漏電,虛焊內阻過大 |
D- |
連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻 |
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D-線開路、短路、漏電,虛焊內阻過大 |
USB數據通信 |
全速、高速USB2.0傳輸 |
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D+D-問題,HUB芯片不良,兼容性問題 |
主端D+D-電壓 |
一些特殊數據線需要單獨檢測主端D+D- |
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相關線開路短路、電阻不良 |
主端鐵殼 |
懸空、接VCC、接GND、直通 |
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連接不正確 |
從端鐵殼 |
懸空、接VCC、接GND、直通 |
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連接不正確 |
芯片協議DQ |
通信、普通認証、動態認証、版本、序列號 |
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主控芯片、動態芯片損坏、虛焊、未寫碼 |
VOOC協議 |
檢測VOOC認証 |
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認証芯片損坏、虛焊 |
DQ腳電平 |
IC協議通信腳的高低電平是否符合要求 |
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主控芯片不良,部分損坏 |
Hi5cc |
檢測Hi5cc電流是否正常 |
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主控芯片不良,部分損坏 |
MSN/ASN |
已寫/未寫 |
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未寫碼 |
MOS管 |
是否可正常控制、開路、短路,是否有輸出短路保護功能 |
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MOS管開路、短路、非原裝MOS管,金手指開路 |
待機空載電壓 |
待機電壓是否正常 |
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MOS管損坏,山寨頭100歐電阻虛焊 |
待機帶載電壓 |
待機帶載電壓是否正常 |
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MOS管損坏,關不死 |
待機限流 |
待機時給3.5V電池充電電流 |
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MOS管損坏,關不死 |
短路電流 |
待機時輸出端短路電流 |
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MOS管損坏 |
CC線 |
快充線CC線是否連通 |
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CC線開路,虛焊 |
CC電阻 |
CC線上的Rd,Rp連接方式、電阻阻值 |
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插頭不良 |
E-Marker |
讀碼 |
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芯片、CC線、插頭腳開短路 |
IC方案 |
檢測蘋果頭中所用的芯片方案 |
Lightning |
Lightning |
OPPO芯片方案 |
OPPO芯片方案 |
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芯片方案不對 |
搖擺測試 |
檢查線材搖擺瞬間有無開短路等 |
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虛焊 |