| 型號： | WIM 300 |
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| 品牌： | UTECHZONE由田 |
| 原產地： | 日本 |
| 類別： | 電子、電力 / 其它電力、電子 |
| 標籤︰ | AOI檢測 , 晶圓檢測 , 自動 |
| 單價： |
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| 最少訂量： | 1 件 |
| 最後上線︰2021/06/03 |
敝司代理UTECHZONE由田的晶圓檢測設備。用於Wafer的缺陷檢測。
產品特性：
1、高解析度CCD結合多角度燈光模組，有效檢出缺陷
2、可檢 Bare Wafer 、Pattern Wafer 、 Glass Wafer 、 Framed wafer
3、用於RDL寬度/高度、Bump寬度/高度、UBM深度…等檢測項目
