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主要參數：·半導體器件高精度測量
-上限達2000V或電流到10A的源（370A）
-上限到3000V（371A）
-上限到220W（370A）
-上限到400A（371A）
-1nA的測量分辨率
-上限到3000W（371A）
·上限到2mV的測量分辨率（370A）
·波形對比
·包絡顯示
·波形平均
·點光標（370A）
·Kelvin傳感測量
·全程控
·MS-DOS兼容的軟盤，方便設置參孝存儲和調用
描述
主要參數： 
·半導體器件高精度測量 
-上限達2000V或電流到10A的源（370A） 
-上限到3000V（371A） 
-上限到220W（370A） 
-上限到400A（371A） 
-1nA的測量分辨率 
-上限到3000W（371A） 
·上限到2mV的測量分辨率（370A） 
·波形對比 
·包絡顯示 
·波形平均 
·點光標（370A） 
·Kelvin傳感測量 
·全程控 
·MS-DOS兼容的軟盤，方便設置參孝存儲和調用 

應用 
手動或自動進行半導體高分辨率DC參數測量 
來料檢查 
生產測試 
過程監視及質量控制 
數據報告的生成 
元件配對 
失效分析 
工程測試 
交互式程控 
所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式，調整和存儲操作參數，包括370A的非 
易失存儲器、內置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。 

測試夾具 
測試夾具是標準附件，它提供被測器件安全防護，以保護測量人員的安全。測試夾具適應標準的A1001，中間通過Kelvin傳 
感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。 
370A程控特性曲線圖示儀 
370A是全球著名的高分辨率特性曲線圖示儀，可應用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場效應管、光電元件、太陽能電池、固態顯示和其它半導體器件的直流參數特性的測試。 
在研發實驗室，用370A來完成新器件、SPIEC參數的提取、失敗分析和產生數據報告這些具體的測試工作。 

在製造過程中，用370A檢驗器件質量及過程監視。 
370A可進行來料檢查、器件性能測試、失效分析和器件配對這些測試工作。 
技術指標集電極電源模式 AC，±DC，±洩露，±整流的正弦波範圍***大峰值電流（±）峰值電流（脈衝式）（±）16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 階梯信號發生器模式階梯：DC，80μS脈衝，300μS脈衝階梯量程-電流：50nA到200mA，按1-2-5順序電壓：50mV到2V，按1-2-5順序偏置***大到±10X階梯幅度階梯數 0到10測量特性集電極電流-測試量程：100nA/div（1nA分辨率）至2A/div誤差，1.5%光標讀出＋0.05div設定值（點光標）發射極電流-測試量程：1nA/div（10pA分辨率）至2mA/div 誤差 1.5%光標讀出＋0.05div設定值＋1nA 安全標準 UL1244，CSA231，HD401S1。