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表面微粒子計數器QIII為世界，采接觸式、量測物體表面Particle數量的設備！

為半導體，面板廠，設備商與所有PARTS CLEAN廠商，驗証PARTS表面是否乾淨的檢驗標準工具，表面塵埃粒子計數器用於測量各種高潔淨度要求的產品，光學鏡片組件，液晶面板及超淨微環境受控的半導體機台等表面所附着的塵埃粒子的粒徑大小及單位面積內的數量。

規格說明

粒子量測範圍：0.1um - 5um

通道：0.1、0.2、0.3、1.0、3.0、5.0um

傳感器：雷射二極管

顯示屏幕：7 英吋 WVGA，觸控屏幕，帶有縮放功能

數據輸出：USB 端口、以太網絡、WiFi (選配)

語言：英文、中文、日文、韓文

尺寸和重量：寬12英吋X 深12英吋X 高9英吋，26.5 磅

輸入電源：100-240 VAC，50/60 赫茲

電池：2顆 鋰電池，可熱插入

適合使用單位:

•適合客戶群: 半導體黃光, 蝕刻製程, 零件清洗商,設備清潔維護, 光電廠, 玻璃基板廠等

•適合單位 : PVD, CVD, Photo, Ion Plant, YE, QA, QC ,  Microntation , Etch, Diffusion.