| 型號： | SRC 6001 |
|---|---|
| 品牌： | TW |
| 原產地： | 臺灣 中國 |
| 類別： | 電子、電力 / 其它電力、電子 |
| 標籤︰ | ICT , ICT測試 , ICT測試治具 |
| 單價： |
-
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| 最少訂量： | - |
| 最後上線︰2023/10/29 |
測試主機： 1台
開 關 板： 5塊(CMOS開關板)
主控電腦： 1台
氣動夾具： 1套
票據打印機：1台
安裝盤： 1張
測試電纜： 1.2米34芯扁平電纜10根
二測試點數
標 准： 320
最 大： 2496
通道板：以64點增設（或128點）
三 技術參數
1、開路/短路測試
測試方法：分組掃描
編程方法：自動學習
測試閥值： 5Ω～80Ω
測試電流 ： ≤10mA
測試速度： 1024點＜1s （全開路或電纜短路 ）
2、元器件測試
測試電壓：±10V之間連續可調（CMOS開關板為－10V～＋5V）
測試電流：0.1uA～100mA可編程（CMOS開關板為0.1uA～20mA）
測試速度：平均10ms/步
⑴電阻測試
測 試 范 圍：0.1W～40MW
激 勵 電 壓: 0～5V(可 編 程)
激 勵 電 流：100nA～10mA
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測 試 范 圍 |
精 度 |
測試時間 |
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＜1Ω |
用4針測量法，分辨到10mΩ |
1ms～5ms |
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1W～400KW |
± (1% + 1W) |
1ms～5ms |
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400KW～2MW |
± 2% |
1ms～20ms |
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2MW～40MW |
± 3% |
20ms～40ms |
⑵電容測試
測試範圍：1pF～40mF
激勵電壓：250mV～10V(可編程)
激勵電流：100nA～10mA
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測 試 范 圍 |
精 度 |
測 試 時 間 |
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1pF～100pF |
± (5% + 3pF)(消除引線電容) |
2ms～10ms |
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100pF～1nF |
± (5% + 10pF) |
2ms～10ms |
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1nF～1uF |
± 3% |
2ms～10ms |
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1uF～500uF |
± 5% |
2ms～10ms |
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500uF～2000uF |
± 5% |
5ms～10ms |
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2000uF～40mF |
± 5％ |
10ms～15ms |
⑶ 其他測試
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項 目 |
范 圍 |
精 度 |
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電 壓 |
0V～10V,可選件：0～200V |
±0.1% |
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電 感 |
1uH～250 H |
±5% |
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跳 線 |
測試電壓2.5V 1Ω～100Ω可設定 |
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PN結正嚮導通特性 |
0.2V～2.5 V |
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二 極 管 |
PN結曲線測試、正反向壓降測試 |
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穩 壓 管 |
≤48V,CMOS開關板為0～10V |
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頻率測試 |
1Hz～50MHz（選件） |
±0.1％ |
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數字晶體管 |
0.01V～2.5 V |
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普通晶體管 |
β值 1～1000，≤10mA驅動電流 |
±5% |
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光電藕合器 |
1mA～10mA驅動 |
0.01V～2.5v變化量 |
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多管腳器件 |
光電藕合器、場效應管、可控硅、電位器、繼電器、接插件等 驅動電流0～10mA 驅動電壓0～10V |
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極性電容 |
三針測量，金屬外殼， 0.1uF～40mF |
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