產品描述
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基本型
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多層鎳型
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測量原理 |
利用與鍍層、基材相對應的電解液、在一起電流所溶解
的厚度和時間成正比,來測定膜厚的一種測量方式(即
運用電化學中的庫侖法來測定膜厚) |
1、測量厚度的原理和基本型相同。
2、測量電位差是利用不同鎳層之間的電位差異來反映各層鎳
的厚度及層間電位差。 |
可測定材料 |
可被電解液所電解的金屬鍍層,如:銅、鎳、鉻、鋅、
銀、金、錫等。 |
基本型儀器可測量的各種鍍種的厚度及多層鎳的層間電位差 |
測量範圍 |
0.03微米~99.99微米 |
厚度:0.03微米~99.99微米 電位差:-100mV~+400mV |
準確度 |
±10% |
厚度:±10% 電位差:±5% |
復現精度 |
<5% |
<5% |
測量值表示 |
LED4 位顯示,其中兩位為小數。打印輸出四位數字,其
中兩位為小數。 |
除了擁有LED4位顯示和4位打印輸出以外還有繪圖儀輸出電位
差曲線,繪圖儀輸出的圖形是在X軸代表電位(mV),Y 軸代表
厚度(μm)的座標軸上顯示的比例曲線。 |
測量面積 |
A橡皮墊圈 φ2.5mm B橡皮墊圈 φ1.7mm |
A橡皮墊圈 φ2.5mm B橡皮墊圈 φ1.7mm |
性能特點 |
操作簡便,復現性好,可測量單層、復合層電鍍。
具有內置微電腦,直觀顯示各層厚度。 |
操作簡便,復現性好,可測量單層、復合層電鍍。具有內置
微電腦,經過微電腦處理,直觀顯示各層厚度及電位差。 |
設備配備
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主機、電解池、有機測量架、橡皮墊圈、標準樣板、打
印紙及支架、試劑瓶等 |
主機、電解池、有機測量架、橡皮墊圈、標準樣板、打印紙
及支架、試劑瓶、繪圖儀等 |
注:另可附加測量小體積物體及線材的功能(體積、形狀、大小無限制)。 |
產品圖片
圖 1
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