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錫膏厚度測試儀 1
  • 錫膏厚度測試儀 1

錫膏厚度測試儀

型號:DT-2000
品牌:TESHERCK
原產地:新加坡
類別:電子、電力 / 儀器、儀表 / 機械量儀表
標籤︰錫膏測厚儀 , 膜厚測試儀 , 厚度測試儀
單價: -
最少訂量:1 台
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產品描述

 

    :1.測量錫膏厚度:計算方形、不規則多邊形、圓形錫膏面積和體積。

               2.檢查幾何形狀、X軸間距、Y軸間距和兩線夾角,零件腳共平面度

               3.影像捕捉、處理;S.P.C分析、報表輸出

量測原理:非接觸激光測度儀由專用激光器產生線型光束,以一定的傾角投射到待測量目標上,由於待測與

 基板存在高度差,此時觀測到的目標和基板上的激光束相應出現斷續落差,根據三角函數

關係可以用觀測到的落差計算出待測目標與週圍基板存在高度差,從而實現非接觸式的快

速測量。

軟件介紹:1.視頻觀察、圖像保存、厚度測量、數據記錄、背景光、激光亮度控制、面積(方形、不規則多

邊形、圓形)/體積/間距/X軸、Y軸)/夾角測量,可記憶24條生產線任意數量產品

          2.根據指定的產品、生產線和日期範圍進行數據查詢、修改、刪除、導出(文本和Excel表格)、

打印,能統計平均值、最大值、最小值、方差、標準差、不良數、不良率、偏度、峰度、

CaCpCpkPpPpk,並可繪製、預覽、打印X-BAR管製圖和R管製圖(其中的管制

參數可自行設定)

技術參數:測量原理:非接觸式、激光束       測量精度 ±0.002mm       重複測量精度:±0.004mm

                基座尺寸:324mm×320mm            電磁式移動平台尺寸:230mm×200mm

                光線放大倍率:50x 100x(使用時固定)     照明系統:環形LED光源(PC控制亮度)

                測量光源:可低至5.0μm高精度激光  測量軟件SPC2000(英簡繁Windows2000/X平台)


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錫膏厚度測試儀 1
圖 1

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