| 型號： | TO-4、6、8、10、12 |
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| 品牌： | - |
| 原產地： | 中國 |
| 類別： | 電子、電力 / 電子元器件 / 端子、連接器 |
| 標籤︰ | 接插件 , 老化插座 , 測試插座 |
| 單價： |
-
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| 最少訂量： | - |
| 即時通訊: | 最後上線︰2018/07/08 |
TO封裝集成電路老化測試插座
該插座用於金屬殼封裝集成電路的老化、測試、篩選作連結之用，連結金屬管材料採用磷青銅表面鍍金、鍍銀、鍍鎳等工藝，該插座耐高溫、絕緣性能好，經久耐用，深受用戶的歡迎。
產品型號及規格；
TO-4、6、8、10、12
主要技術指標；
環境溫度；-55℃—+155℃ 接觸電阻；≤0.01歐 工作電壓；DC500V 單腳插入力；≤0.2Kg
磷青銅管鍍銀層厚度；1um鎳2um銀 高低溫狀態下插拔壽命；2000-3000次.
