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基本信息

品牌：	3DFAMILY	型號：	經濟型E80/100/130	操作方式：	自動
功能：	檢測、觀察、分析
其它型號：	豪華型L80/100/130

    View X為X光機系列中的一組或稱為手動型探傷儀，它包括一個基於Windows系統平台的工作台（View X -1000），並配有圖像多樣採集功能，能夠做到圖像同步採集與分析。View X光機完全體現了Scienscope設計中的集使用簡便、圖像清晰、價格合理的完美理念。

1、最高可達130千伏，5微米聚焦的X光管能產生125倍的幾何放大率，再加上電腦放大可以達到1000倍的放大率。
2、觀察範圍可從1.5毫米至50毫米。
3、採用激光筆輔助樣品定位。
4、X光管的Z軸可動控制（FOV和放大率控制）。
5、X光管探測器的Z軸可動控制（FOV和放大率控制）。
6、載物台可作±60°傾斜。
 

　

具體型號	經濟型E80/100/130
光管類型	封閉管 / Sealed tube
光管電壓	80kV、100KV、130KV
光管電流	0.15mA
光管聚焦尺寸	4.5-7um
冷卻方式	風冷 / air cooling
幾何放大倍率	125X
載物臺大小（mm）	400*400*270
載物台旋轉角度	±60°
增強屏視場	4/2 inch
增強屏解析度	75 lp/cm
尺寸（mm）	1450*1400*1750mm
重量	約770 kg
電源	AC110-230VAC, 50/60Hz
計算機	Windows®XP 17”CRT /LCD    Intel Pentium IV
工作環境溫度	0-40℃
輻射安全標準	美國FDA安全輻射標準
保修期	一年保修

View X高解析度X光無損探傷儀主要使用於BGA、CSP、flip chip、半導內部以及多層電路板的質量檢測，並能快捷清晰地檢測電路板的焊接情況，特別適用生產過程的質量檢測和返修后的質量檢測。