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光譜測金儀（EXF7200黃金，鉑金純度檢測儀）液晶顯示增強型

　　技術指標：
　　分析範圍：10％～99.99％
　　測量時間：自適應30～50秒
　　測量精度：±0.1％
　　測試環境：常溫常態
　　可分析元素：金（Au），銀（AG），鉑（PT），鈀（Pd），銅（Cu），銠（Rh），釕（Ru），鋅（Zn），鎳（Ni），鎘（CD），根據元素能量表可觀察以上出各元素的圖譜。
　　
　　X射線源：X射線光管（風冷無輻射）
　　測量點尺寸：1～2mm
　　高壓器：4～50Kv
　　分析：多通道模擬
　　電壓：100～127或200～240V，50／60Hz
　　尺寸：500＊500＊350mm（最大處）
　　重量：35kg
　　操作系統：Windows2000／XP
　　
　　鍍層測量：
　　鍍層厚度範圍＜30μm
　　最大測量層數：5層
　　測量精度：0.03μm
　　
　　儀器配置：
　　X光管
　　正比計數探測器
　　高壓電源
　　放大電路
　　液晶顯示屏幕
　　攝像定位系統
　　
　　產品特點：
　　
　　1）儀器性價比高
　　承諾，本公司各款測金儀價格，絕對低於市場上任何一款同類產品的價格。本產品採用先進技術成果，提高了性能，節省了成本。
　　
　　2）測量元素全面，涵蓋貴金屬行業補口數據庫
　　能夠測量：金Au（包括K金），鉑金PT，白銀AG，鈀金Pd，銠Rh，銅Cu，鋅Zn，鎳Ni，鎢W等金屬元素。
　　
　　3）快速定性定量判斷
　　1～3秒可以對首飾做定性判斷，30秒檢測出精確結果。最高精確度可以達到0.1％，風冷散熱循環系統，穩定，重現指標高。
　　
　　4）率先將先進的攝像定位技術引入珠寶檢測領域
　　該攝像定位系統除讓首飾檢測更加直觀、X熒光更集中于目標位置外，還可以將首飾被檢測到的精確位置的圖片信息，連同計算報告一起打印出來。
　　
　　5）售后服務遵循儀器儀表國家規定
　　產品實行國家儀器儀表“三包”，一年保修，三月包換，終生維護，終生免費軟件升級

廠家：深圳市西凡科技有限公司
負責人：張鵬
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