型號: | - |
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品牌: | zolix |
原產地: | 中國 |
類別: | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器 |
標籤︰ | 測試機 , 太陽能電池 , 量子效率 |
單價: |
-
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最少訂量: | - |
最後上線︰2017/02/27 |
測試原理
用強度可調的偏置光照射太陽能電池,模擬其不同的工作狀態,同時測量太陽能電池在不同波長的單色光照射下產生的短路電流,從而得到太陽能電池的絕對光譜響應與量子效率。 |
Solar Cell Scan100系統組成
■ 系統包括兩個150W氙燈,分別做為探測光源和偏置光源(選配件)。 ■ 採用300mm焦距的三光柵光譜儀做為分光系統,保証良好的波長準確度和重複性,消除多級光譜的影響。 ■ 獨特的測試光路,可同時實現響應度與鏡面反射率的測試.對於漫反射樣品的反射率測試,則採用積分球方式來實現,確保了測試的準確性.探測光光斑大小從3mm至10mm可調,以適合不同尺寸的樣品測試。 ■ 樣品台採用高精度二維平移機構,配有恆溫(或變溫)及真空吸附裝置,變溫範圍可達到5~40度。 ■ 系統可工作于斬波模式與連續模式,斬波模式採用鎖相放大器來實現數據採集,連續模式採用高精度直流放大器來實現數據採集。 ■ 採用二維高精度電控位移台可對電池樣品進行Mapping掃描, ■ 專業軟件,可實現一鍵自動完成響應度、反射率、QE及IPCE的測試。並可針對不同應用,自行設計測試流程。 |
◆ 獨有的垂直光路設計
獨有的垂直光路設計,被測樣品平面放置,不僅確保樣品的穩定擺放,以保証測試的穩定性,而且更適合染料敏化電池的測試。 ◆ JSC模擬計算功能 ◆ 時間穩定度測試 ◆ 具有真空吸附及恆溫保持功能的樣品台(選配件) ◆ 測試光斑大小可調,適用不同尺寸樣品的測試 |
◆ 多結以及多層膜電池的測試
通過改變偏置光光強,來飽和各結太陽能電池,分析待測結太陽能電池量子效率。 |
◆ 反射率測量
系統提供鏡面反射與漫反射測試選件,提供您完整的反射率測試分析手段。 |
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偏置光平行光路 |
積分球漫反射測量 |
◆ 開放式偏置光路
偏置光路上預留光學元件的安裝位置,您可自由改變偏置光的條件,可用於對太陽能電池缺陷做先期的分析。 ◆ 標準樣品台 適用於樣品尺寸相對固定的太陽能電池片的量測。可升級為變溫或恆溫樣品台。 ◆ 變溫樣品台 在不同的溫度下測量太陽能電池電流的輸出,對太陽能電池在實際工作環境下是否存在缺陷做先期的分析。 ◆ 大麵積太陽能電池片(最大156x156mm)的掃描檢測,二維自動平移系統可實現對電池樣品的各個位置做測量分析(選配件) 1.量子效率均勻性分析 2.反射率均勻性分析 |
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◆ 斬波與連續兩種測試模式,可實現常規光電池以及慢響應光電池的光譜響應測試
Solar Cell Scan 100 提供斬波模式QE/IPCE測量,可實現對多種太陽電池的測試(DSSC, Organic, Amorphous silicon, Monocrystalline Silicon, Microcrystalline Silicon, Polycrystalline Silicon, CdTe, CIGS, GaAs),也提供連續模式配合暗室測量光電轉換較慢的太陽能電池材料QE測量,如染料敏化與光化學太陽能電池材料量子效率測量。 |
項 目 |
指標和說明
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150W氙燈
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光學穩定度≦0.8%,可工作在斬波模式(適合常規單晶/多晶/非晶硅、CdTe CIGS GaAs 等太陽能電池)與連續模式(適合慢響應染料敏化電池,有機太陽能電池)
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測試光斑尺寸
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3mm~10mm
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三光柵DSP掃描單色儀
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波長範圍
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300nm~2000nm
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波長準確度
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a) ±0.3nm(1200g/mm,300nm) b) ±0.6nm(600g/mm,500nm)
c) ±0.8nm(300g/mm,1250nm) |
掃描間隔
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最小可至0.1nm
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輸出波長帶寬
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<5 nm
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多級光譜濾除裝置
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根據波長自動切換,消除多級光譜的影響
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光調製頻率
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4 - 400 Hz
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標準樣品台尺寸
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164mmx164mm
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標準硅探測器
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含校正報告
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偏置光源
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光強可調,最高可大於1個太陽常數(需選配)
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樣品最大尺寸
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156mm×156mm
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數據採集裝置靈敏度
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a) 斬波模式:2nV;b) 連續模式:100nA
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測量重複精度
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對太陽光譜曲線積分重複性在±1%以內
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測試週期
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單次掃描<1min,完整測試<5min (步長5nm)
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反射率測量
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鏡面反射 300-1100nm(需選配);漫反射 300-1600nm(需選配)
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溫度控制
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恆溫控制:25±1℃(需選配);變溫控制:5~40℃(需選配)
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3D Mapping
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156mm×156mm,100um分辨率
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儀器尺寸
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主機:842mm×770mm×575mm;控制櫃:800mm×600mm×1300mm
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Solar Cell Scan 100選購件列表
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型 號
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說 明
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QE-A1 偏置光源附件
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150W 高穩定氙燈,平行光路含濾光片支架,光穩定度≦0.8%
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QE-C1 鏡面反射率測試附件
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含Si探測器,波長範圍300-1100nm
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QE-C2 漫反射率測試附件
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含漫反射測量積分球,Si & InGaAs探測器,波長範圍300-1600nm
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QE-D1 二維電動樣品台
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XY 二維電移台及控制驅動
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QE-F1 真空吸附樣品台
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156mm x156mm
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QE-F2 恆溫樣品台
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25 ℃±1℃,156mm x156mm
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QE-F3 變溫樣品台
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5-40 ℃,台面尺寸30 mm x30mm
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