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| 品牌： | - |
| 原產地： | - |
| 類別： | 化工 / 化學試驗器具和用品 |
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| 最少訂量： | - |
| 即時通訊: | 最後上線︰2017/05/20 |
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單懸臂帶針尖探針：
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NSC19/AlBS
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接觸模式、輕敲模式及力調製模式，探針曲率半徑10nm，鍍鋁硅探針，固有頻率為80kHz
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SCD19/AlBS
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接觸模式、輕敲模式及力調製模式，探針曲率半徑10nm，金剛石探針，固有頻率為80kHz
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DP19/HiRes-C/AlBS
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輕敲模式，探針曲率半徑1nm，類金剛石tip，固有頻率80kHz
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DP19/HiRes-W/AlBS
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輕敲模式，探針曲率半徑1nm，鎢tip，固有頻率80kHz
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SCD19/AlBS
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輕敲模式，探針曲率半徑7nm，金剛石探針，固有頻率80kHz
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SCD18/AlBS
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力調製模式，探針曲率半徑7nm，金剛石探針，固有頻率75kHz
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NSC18/AlBS
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溶液下輕敲模式，探針曲率半徑10nm，硅探針，固有頻率75kHz
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NSC18/Cr-AuBS
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腐蝕溶液下輕敲模式，探針曲率半徑50nm，硅探針，固有頻率75kHz
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NSC18/Co-Cr
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用於表面磁疇測量，探針曲率半徑90nm，磁鍍層，固有頻率75kHz
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SCD17/AlBS
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接觸模式，探針曲率半徑7nm，金剛石探針，固有頻率12kHz
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CSC17/AlBS
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接觸模式，探針曲率半徑10nm，硅探針，固有頻率12kHz，鍍鋁
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CSC17/Cr-AuBS
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接觸模式，探針曲率半徑10nm，硅探針，固有頻率12kHz，鍍金
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DP17/LS/AlBS
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接觸模式，探針曲率半徑30nm，鍍硬模探針，固有頻率12kHz
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DP15/HiRes-C/AlBS
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真空下的輕敲模式，探針曲率半徑1nm，類金剛石tip，固有頻率300kHz
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DP15/HiRes-W/AlBS
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真空下的輕敲模式，探針曲率半徑1nm，鎢tip，固有頻率300kHz
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SCD15/AlBS
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真空下的輕敲模式，探針曲率半徑7nm，金剛石探針，固有頻率300kHz
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NSC15/AlBS
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真空下的輕敲模式，探針曲率半徑10nm，硅探針，固有頻率300kHz
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DP15/LS/AlBS
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真空下的輕敲模式，探針曲率半徑30nm，鍍硬膜探針，固有頻率300kHz
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DP14/HiRes-C/AlBS
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輕敲模式，探針曲率半徑1nm，類金剛石tip，固有頻率160kHz
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DP14/HiRes-W/AlBS
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輕敲模式，探針曲率半徑1nm，鎢tip，固有頻率160kHz
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SCD14/AlBS
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輕敲模式，探針曲率半徑7nm，金剛石探針，固有頻率160kHz
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NSC14/AlBS
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輕敲模式，探針曲率半徑10nm，硅探針，固有頻率160kHz
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DP14/LS/AlBS
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輕敲模式，探針曲率半徑30nm，鍍硬模硅探針，固有頻率160kHz
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DPE14/AlBS
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用於表面電勢，電容和擴展電阻等測量模式，探針曲率半徑30nm，鉑鍍層，固有頻率160kHz
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DPE15/AlBS
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用於表面電勢，電容和擴展電阻等測量模式，探針曲率半徑30nm，鉑鍍層，固有頻率300kHz
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DPE16/AlBS
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用於表面電勢，電容和擴展電阻等測量模式，探針曲率半徑30nm，鉑鍍層，固有頻率170kHz
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DPE17/AlBS
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用於表面電勢，電容和擴展電阻等測量模式，探針曲率半徑30nm，鉑鍍層，固有頻率12kHz
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DPE18/AlBS
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用於表面電勢，電容和擴展電阻等測量模式，探針曲率半徑30nm，鉑鍍層，固有頻率75kHz
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DPE19/AlBS
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用於表面電勢，電容和擴展電阻等測量模式，探針曲率半徑30nm，鉑鍍層，固有頻率80kHz
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NSC14/Ti-Pt
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用於導電AFM測量，探針曲率半徑35nm，鉑銥鍍層，固有頻率160kHz，可提供鉑/鋁、鉑/無鋁、金鍍層等選項
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CSC17/Ti-Pt
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用於導電AFM測量，探針曲率半徑35nm，鉑銥鍍層，固有頻率12kHz，可提供鉑/鋁、鉑/無鋁、金鍍層等選項
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NSC19/Ti-Pt
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用於導電AFM測量，探針曲率半徑35nm，鉑銥鍍層，固有頻率80kHz，可提供鉑/鋁、鉑/無鋁、金鍍層等選項
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