美國UPA Calmetrics X射線測厚儀鍍層標準片
產品描述
品牌：UPA和Calmetrics 產地：美國 中國區總代理
奔藍科技總代理UPA和CalMetics一系列標準片，標準片通過A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)認証，UPA是美國原廠製作標準片的專業認証公司，其專門為X射線測厚儀大廠如德國費希爾Fischer、英國牛津Oxford（CMI）、美國熱電Thermo、美國Veeco、韓國Micro Pioneer、日本精工Seiko等生產製作標準樣品。
UPA和Calmetrics鍍層標準片適用於Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、 β-ray（β射線測厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的各種規格與尺寸。
特色：標準片A2LA校正認証，質量精良，精度高、穩定性好
X-Ray、β-Ray、磁感式、渦電流式專用標準片
X射線測厚儀標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學鍍層：Ni-P/xx。（所有標準片都附有NIST証書）
我們除了可以提供X射線測厚儀標準片之外，還可以提供β射線測厚儀和庫倫測厚儀標準片及庫侖測厚儀的標準測試藥水。並有X射線測厚儀、β射線測厚儀、磁感應測厚儀、渦電流測厚儀、庫侖測厚儀等出售。
我們可以根據客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片，並附有標準片厚度值NIST証書.
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片或者薄膜片，專業用於X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。
我們公司是一家精密測試儀器代理商，為顧客提供最優質的產品及服務。 我公司在中國地區代理韓國MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測厚儀及美國Thermo第二代光學准直器X熒光測量儀。此兩種儀器主要用於塗鍍層厚度的測量，而且特別適合於對微細表面積或超薄鍍層的測量。
十多年來，奔藍科技一直服務于PCB 廠商、五金電鍍、連接器、LCD、科研機構、高校、質量檢測中心、半導體、微電子、光電子、光通訊等領域。我們提供高質量的產品和最優質的服務都得到客戶最高的獎勵，在未來,我們將繼續履行客戶的期望、要求和需要。
深圳市奔藍科技有限公司 Shenzhen BenLion Technologies Co., Ltd.
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圖 1
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