產品描述
EXF7200——貴金屬檢測儀（可檢測金、銀、鉑、鈀等貴金屬）,全球貴金屬行業檢測最受歡迎的經典款型。
EXF7200--是集西凡儀器多年貴金屬檢測技術和經驗，以獨特的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來能滿足貴金屬成分檢測的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕鬆完成。
EXF7200--貴金屬檢測儀使用高效而實用的正比計數盒探測器，（項目聯繫人金先生 ①③⑤③⑧②①⑧⑤②①）以實在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，加上全軟件控制的自動調整移動平台和切換準直器的裝置，使儀器操作更人性化、更方便。
應用領域：
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用於貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
激發源： Mo靶的X光管風冷 (無輻射）
測量點尺寸：1～2mm
樣品室: 長400 mm×寬: 300mm×高: 0～90 mm樣品放大成像系統
軟件： 菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算
計算機： 選擇配置
檢測器： 固定式半導體封氣正比計數器微處理器控制的檢測器和讀出電路
其它規格：
電壓: 100～127或200～240V,50/60 Hz
最大功率: 120W
最大處尺寸: 500mm*500mm*400mm
重量: 48kg
技術指標
分析範圍： 1%～99.99%
測量時間： 自適應
測量精度： ± 0.1%
測試環境： 常溫常態
分析元素： Au 、Ag 、Pt 、Pb、Rh 、Ru 、Cu、Zn 、Ni 、Cd﹑W
X射線源： X射線光管
高壓器： 4～50Kv
分析： 多通道模擬
操作系統: Windows2000/Me/XP
產品圖片
圖 1
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