產品描述
◆產品通用性高，只需換顆粒限位框，即可測試尺寸不同的顆粒（寬度≤13MM 長度≤14MM）；
◆產品全新設計，相比以前更薄，預留插槽卡位，不需轉接槽可直接插到測試板上進行測試，
把頻率衰減降到最低，減少誤測；
◆有球無球均可測試，顆粒壓板通過使用高精度自適應彈簧保証每個 IC 平衡下壓；
◆採用手動翻蓋滾軸式結構，操作省力方便，相比同類產品減少磨損，達到更高的使用壽命；
◆採用臺灣著名廠家生產的內存顆粒測試專用 PCB，金手指、IC 焊盤鍍金層是普通 PCB 的 5
倍，保証測試治具有更好的導通和耐磨性，相比同類產品具有更好的超頻性能及使用壽
命；
◆採用帶定位孔內存顆粒測試專用 PCB，探針板與 PCB 孔定位，保証探針與 PCB 精確定位，
如有損坏用戶可自行更換維修，簡單方便，減少返廠維修，為客戶爭取寶貴時間；
◆採用超短進口雙頭探針設計，相比同類測試產品使 IC 與 PCB 之間數據傳輸距離更短，從
而使測試更穩定，頻率更高，DDR3 系列頻率可達 2000MHZ；
◆探針板採用定位銷加螺絲結構，在使用過程中如有探針損坏，客戶可自行更換維修，方便
維護，為生產爭取寶貴時間；
◆高精度合金 IC 定位框，保証 IC 定位精確，取放 IC 方便，從而提高測試效率；
◆測試壽命長，有效測試 10 萬次以上；（視使用環境及相關操作而定）
◆內存顆粒測試治具測試規格：DDR2X8 DDR3X8 一次性可測試 8 顆內存顆粒；
◆可以定製單顆內存 IC 與服務器主控 IC 的測試治具
◆可以免費提供相關的技術支持。
產品服務：
※該產品用戶可自行維修，本公司按成本價提供相關配件；
※保修期內，免費維修（人為損坏、燒坏除外），如果需換件，只收材料成本費。
※免費提供相關的技術支持
產品圖片
圖 1
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