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擁有專利技術的廣角幾何（WAG）,400W X光管，60 kV發生器，8個二次靶，8款濾光片，高分辨率硅漂移探測器完全滿足輕元素檢測的要求。X-7600SDD LE的問世使得元素週期表中所有元素的檢測都能得到最佳結果。
X-7600SDD LE 在帶有二次靶技術的能量色散型X射線熒光分析儀領域中，引進專利技術，重新定義了“最先進”的概念。 它為分析調查和開發應用提供了高性能的解決方案，同時，為商業實驗室分析提供了一種低成本、高效益的選擇。
以高精度、sub-ppm檢測精度為特色，在環保、地質和貴金屬檢測領域中，不管是輕元素還是重元素分析，X-7600SDD LE與其他分析儀器相比都具有更加卓越的檢測性能。這是研究與開發領域中最理想的系統。
X-7600SDD LE 提高了輕元素檢測的精度，例如：F、Ne、Na

X-7600SDD LE，使用先進的SDD探測器，具有低電子噪音和高計數率的特點，與 Si-Li 探測器（液氮冷卻）相比具有更高的分辨率，能更快的得到檢測結果。
8個二次靶為快速精確的定量分析提供了最大的靈敏度，即使是是在一些複雜的基質中，例如：合金、塑料和地質樣品。可定製的靶為了達到ppb級的檢測極限。
X-7600 LE 能檢測液體、固體、漿狀、粉末狀，片狀樣品，樣品室能容納不同形狀和尺寸的樣品。

F(9) - U(92) ——使用極薄的高分子聚合物探測窗
ppb - 100%
Rh – 陽極標準 (mo, W, ag, cr 可選).
60kV, 400W. 10-5000µa (in 1µa increments).
直接激發或二次靶激發
室溫條件下精確到0.1%
高分辨率硅漂移探測器（SDD），極薄的高分子聚合物探測窗，熱電冷卻，避免使用液氮冷卻
能在1.6us的峰優化操作時間內達到123ev的最佳分辨率，出色的結果可以通過大範圍的輸入計數率
傳送，在更短的峰操作時間內，高計數率能被處理。
10 個位置 (18 個位置可選).
空氣/真空/ 氦氣.
8款軟件可選.
8款軟件可選: Zr, Si, ti, fe, Ge, mo, Sn, Gd.
 115 Vac /60 Hz 或 230 Vac /50 Hz.
多信道分析
專利廣角幾何（WAG）
未包裝 85 x 85 x 105, 含包裝 145 x 95 x 135.
150kg (淨重), 200kg (總重).
直徑28cm, H=5cm.
集成計算機
nEXt， 運行在Windows XP下的數據採集及分析軟件包外加初級基本參數算法。
樣品激發，探測，樣品操控，數據採集及處理的自動控制。
逃逸峰及背底的自動去除，自動重疊峰解析，圖解式統計報告。
考慮共存元素效應的多元素回歸法（六種模式）。總計數，淨計數擬合及數字濾波器法。
用戶可自定的數據報表及打印形式
18樣品的旋轉式自動給樣系統，樣品旋轉機制，專業的基本參數算法。