英國Oxford牛津SRP-4面銅探頭（CMI563/CMI700專用）
SRP-4面銅探頭測試技術參數
專用於Oxford牛津CMI760(CMI700)座臺式孔面銅測厚儀
銅厚測量範圍：
化學銅：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
電鍍銅：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
線形銅可測試線寬範圍：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
準確度：±1% (±0.1 μm)參考標準片
精確度：化學銅：標準差0.2 %；電鍍銅：標準差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
英國Oxford牛津ETP孔銅探頭(CMI500/CMI700專用)
ETP孔銅探頭測試技術參數：
專用於Oxford牛津CMI511（CMI500）孔銅測厚儀、CMI760（CMI700）座臺式孔面銅測厚儀
可測試最小孔直徑：35 mils (899 μm)
測量厚度範圍：0.08 – 4.0 mils (1 – 102 μm)
電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標準的相關規定
準確度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
精確度：1.2 mil（30μm）時，達到1.0% （實驗室情況下）
分辨率： 0.01 mil(0.1 μm)
顯示 6位LCD數顯
測量單位 um-mils可選
統計數據 平均值、標準偏差、最大值max、最小值min
接口 232串口,打印並口
電源 AC220
儀器尺寸 290x270x140mm
儀器重量 2.79kg
英國Oxford牛津SRP-T1面銅探頭/探針（CMI165專用）
SRP-T1探頭：CMI165專用可更換探針
牛津儀器工業分析部研發的SRP-T1探頭，綜合運用微電阻原理及溫度補償技術，使其成為世界上首家
推出帶溫度補償功能的銅箔測厚儀的製造商。
