| 型號： | XTOM |
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| 品牌： | 西博 |
| 原產地： | 中國 |
| 類別： | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 光學透鏡和儀器 |
| 標籤︰ | 三維掃描儀 , 拍照式三維掃描儀 , 白光三維掃描儀 |
| 單價： |
¥200000
/ 件
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| 最少訂量： | 1 件 |
| 即時通訊: |  | 最後上線︰2019/06/11 |
XTOM三維面掃描系統基於雙目立體視覺原理，採用國際最先進的外差式多頻相移三維光學測量技術，單幅測量幅面大小（從30毫米到1米）、測量精度、測量速度等性能都達到國際最先進水平，與傳統的格雷碼加相移方法相比，測量精度更高，單次測量幅面更大、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響小，而且能夠測量表面劇烈變化的工件，可以掃描測量几毫米到几十米的工件和物體。廣氾適用於各種需求三維數據的行業，如汽車工業、飛機工業、摩托車外殼及內飾、家電、雕塑等。
系統主要由測量頭、控制箱、標定板、標誌點、計算機及檢測分析軟件等組成。
技術指標
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指標名稱 |
技術指標 |
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核心技術 |
雙目立體視覺、多頻外差相移 |
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掃描方式 |
非接觸式三維白光面掃描方式 |
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※測量幅面 |
支持30毫米到1米的測量幅面，根據需求可實現多種測量幅面：32mm×24mm、64mm×48mm、128mm×96mm、200mm×150mm、400mm×300mm、800mm×600mm等。 |
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測量相機 |
支持一百萬到四百萬像素相機，支持千兆網、USB2.0、USB3.0等多種接口的相機 |
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※相機標定 |
支持多測頭同時標定，支持外部圖像標定 |
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單幅掃描精度 |
0.008-0.05mm |
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測量點云間距 |
0.05-0.5mm |
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單次掃描時間 |
2-4s |
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測量結果格式 |
點云（ASC，PLY，WRL），三角形網格（STL），紋理貼圖（OBJ） |
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※拼接方式 |
支持基於標誌點和基於被測物特征的兩種全自動拼接方式 |
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※全局拼接 |
支持導入攝影測量系統計算的全局點進行測量，提高測量精度 |
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※選區掃描 |
支持手動選擇區域進行掃描，提高掃描速度和後期處理效率 |
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※紋理掃描 |
在掃描物體三維形狀的同時還可以掃描得到並輸出紋理信息 |
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※點云后處理 |
具備點云優化降噪、點云融合（重疊面刪除）、點云補洞、三角化等自動后處理功能 |
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※分析報告功能 |
具備點云測距、多種坐標變換、元素擬合、各種角度及尺寸分析功能 |
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系統兼容性 |
兼容32位、64位系統 |
應用範圍
逆向設計：快速獲取零部件的表面點云數據，建立三維數模，從而達到產品快速設計的目的。
產品檢測：生產線產品質量控制和形位尺寸檢測，特別適合複雜曲面的檢測，可以檢測鑄件、鍛件、沖壓件、模具、注塑件、木製品等產品。
其它應用：文物掃描和三維顯示、牙齒及畸齒矯正、醫學整容修復等。
