| 型號： | XTDP |
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| 品牌： | 西博 |
| 原產地： | 中國 |
| 類別： | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 光學透鏡和儀器 |
| 標籤︰ | 工業攝影測量 , 工業近景攝影測量 , 三維攝影測量 |
| 單價： |
¥250000
/ 件
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| 最少訂量： | 1 件 |
| 即時通訊: |  | 最後上線︰2019/06/11 |
XTDP三維光學攝影測量系統，使用普通單反相機（非量測相機），通過多幅二維照片，基於工業近景攝影測量原理，重建工件表面關鍵點三維坐標。用於對中型、大型（几米到几十米）物體的關鍵點進行三維測量。與傳統三座標測量儀相比，沒有機械行程限制，不受被測物體的大小、體積、外形的限制，能夠有效減少累積誤差，提高整體三維數據的測量精度。可以代替傳統的激光跟蹤儀、關節臂、經緯儀等，而且沒有繁瑣的移站問題，方便大型工件測量。
系統主要由高性能單反相機、編碼標誌點、非編碼標誌點、標尺、計算機及檢測分析軟件等組成。
技術指標
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指標名稱 |
技術指標 |
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核心技術 |
工業近景攝影測量 |
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※測量結果 |
三維坐標、三維位移 |
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測量幅面 |
支持几十釐米到几十米的測量幅面 |
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測量相機 |
支持多種單反、工業相機圖像計算 |
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※相機數目 |
支持單個相機或多個相機圖像同時計算，提高大型工件的測量效率 |
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相機標定 |
軟件自標定，支持多種相機鏡頭畸變模型 |
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測量精度 |
最高±0.015mm/m |
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※標誌點類型 |
支持10、12、15位編碼點，支持黑底白點、白底黑點，更多類型可定製 |
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※靜態變形分析 |
通過多次測量不同變形狀態下的觀測標誌點三維坐標，可以進行關鍵點三維變形偏差計算和色譜圖分析；位移測量結果在三維視圖中以射線和色譜形式繪製，真實表達三維點的變形與運動 |
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※三維數模對比 |
可以對被測工件與CAD數模進行三維幾何形狀比對，快速方便地進行大型工件的產品外形質量的檢測支持stl，iges，step等多種數模文件格式，對比結果三維彩色顯示 |
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※厚度補償功能 |
具備編碼點及非編碼點厚度自動補償功能 |
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※坐標轉換功能 |
321轉換、參考點擬合、全局點轉換、矩陣轉換等多種坐標轉換功能 |
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※元素創建功能 |
可以創建三維點、線、面、圓、槽孔、矩形孔、球、圓柱、圓錐等多種三維元素 |
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※分析創建功能 |
可以創建點點距離、點線距離、點面距離、線線夾角、線面夾角、面面夾角等多種分析 |
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※多核加速 |
多核CPU並行運算，提高系統解算速度 |
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系統兼容性 |
兼容32位、64位系統 |
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系統擴展接口 |
可配合XTOM型三維光學面掃描系統使用，提高大型工件的拼接精度 |
系統特色
