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X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020光學測量儀器 1X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020光學測量儀器 2X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020光學測量儀器 3X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020光學測量儀器 4X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020光學測量儀器 5
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X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020光學測量儀器

型號:H、L、PCB
品牌:-
原產地:韓國
類別:電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器
標籤︰多層鍍層分析 , XRF測厚儀 , X射線測量
單價: ¥10000 / 件
最少訂量:1 件
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深圳市仟鋰馬科技有限公司

免費會員广东省深圳市
最後上線︰2023/07/20

產品描述

X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020光學測量儀器 將X射線照射在樣品上 通過從樣品上反射出來的第二次X射線強度來測量鍍層等金屬鍍層的厚度。金屬鍍層厚度的測量方法有多種,其中X射線熒光法是無接觸無損測量。

X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020

 

將X射線照射在樣品上

 

通過從樣品上反射出來的第二次X射線強度來測量鍍層等金屬鍍層的厚度。

金屬鍍層厚度的測量方法有多種,其中X射線熒光法是無接觸無損測量

 

測量範圍廣,X射線法可測極薄單鍍層、雙鍍層、合金鍍層,且不受底材影響。

各種金屬或塑膠電子零件,五金工件,端子連接器等在加工后為

防止生鏽,或者美觀,或功能 會對零件表面鍍銅鎳銀鋅錫及鋅鎳合金等電解鍍層

但由於工藝或技術問題,會出現有的地方鍍的厚一些,有的地方薄一些

這樣就會導致零件鍍層厚度需要一種測厚儀,這種儀器就是鍍層測厚儀

測量原理:

物質經X射線或粒子射線照射后,由於吸收多餘的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態,此物質必需將多餘的能量釋放出來,而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度,來進行定性和定

 

型号详情图.png

 

X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020

 

測量電鍍層厚度

檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度

測量鍍金,鍍鋅,鍍鈀,鍍鉻,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍鎳,鍍鋅鎳合金等

 

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量,不限底料

儀器全自動台面

多點自動測量,自動雷射對焦


產品圖片

X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020光學測量儀器 1
圖 1
X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020光學測量儀器 2
圖 2
X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020光學測量儀器 3
圖 3
X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020光學測量儀器 4
圖 4
X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020光學測量儀器 5
圖 5

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