| 型號： | CMI900 |
|---|---|
| 品牌： | 牛津儀器 |
| 原產地： | 美國 |
| 類別： | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 機械量儀表 |
| 標籤︰ | 鍍層測厚儀 , 無損膜厚儀 , X-RAY |
| 單價： |
¥280000
/ 台
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| 最少訂量： | 1 台 |
| 即時通訊: | 最後上線︰2014/05/08 |
應用
CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有着非破坏，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量 ，從質量管理到成本節約有着廣氾的應用
行業
用於電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個行業表面鍍層厚度的測量
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技術參數
| 主要規格 | 規格描述 | |||
| X射線激發系統 | 垂直上照式X射線光學系統 | |||
| 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 | ||||
| 標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 | ||||
| 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 | ||||
| 裝備有安全防射線光閘 | ||||
| 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 | ||||
| 准直器程控交換系統 | 最多可同時裝配6種規格的准直器 | |||
| 多種規格尺寸准直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 | ||||
| 測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) | |||
| 在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) | ||||
| 樣品室 | CMI900 | CMI950 | ||
| －樣品室結構 | 開槽式樣品室 | 開閉式樣品室 | ||
| －最大樣品台尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | ||
| －XY軸程控移動範圍 | 標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規格任選 | 300mm x 300mm | ||
| －Z軸程控移動高度 | 43.18mm | XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm | ||
| －XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 | |||
| －樣品觀察系統 | 高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。 | |||
| 激光自動對焦功能 | ||||
| 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 | ||||
| 計算機系統配置 | IBM計算機 惠普或愛普生彩色噴墨打印機 | |||
| 分析應用軟件 | 操作系統：Windows2000中文平台 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 | |||
| －測厚範圍 | 可測定厚度範圍：取決于您的具體應用。 | |||
| －基本分析功能 | 採用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。 | |||
| 樣品種類：鍍層、塗層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) | ||||
| 可檢測元素範圍：Ti22 – U92 | ||||
| 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 | ||||
| 貴金屬檢測，如Au karat評價 | ||||
| 材料和合金元素分析， | ||||
| 材料鑑別和分類檢測 | ||||
| 液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 | ||||
| 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較 | ||||
| 元素光譜定性分析 | ||||
| －調整和校正功能 | 系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移 | |||
| －測量自動化功能 | 鼠標激活測量模式：“Point and Shoot” | |||
| 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重複測量模式 | ||||
| 測量位置預覽功能 | ||||
| 激光對焦和自動對焦功能 | ||||
| －樣品台程控功能 | 設定測量點 | |||
| 連續多點測量 | ||||
| 測量位置預覽(圖表顯示) | ||||
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| －統計計算功能 | 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動範圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 |
| 數據分組、X-bar/R圖表、直方圖 | |
| 數據庫存儲功能 | |
| 任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 | |
| －系統安全監測功能 | Z軸保護傳感器 |
| 樣品室門開閉傳感器 |
