產品描述
X-RAY膜厚儀主要基於WinFTM? V6L核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統。X-RAY膜厚儀採用全新數學計算方法,採用最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM（DistencoControlledMeasurement）及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。X-RAY膜厚儀能夠有效並精確的測量合金屬成分，只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
金霖電子 吳小姐 手機：13603036715 TEL：29371651 FAX：29371653 QQ：1351791466 郵箱：www.kinglin5158@163.com 地址：寶安中心區宏發中心大廈
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圖 1
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