型號: | CMI900 |
---|---|
品牌: | 牛津儀器Oxford |
原產地: | 美國 |
類別: | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 電子測量儀器 |
標籤︰ | 牛津儀器 , 鍍層測厚儀 , 鍍層膜厚儀 |
單價: |
¥100000
/ 台
|
最少訂量: | 1 台 |
最後上線︰2013/04/08 |
應用
CMI900X射線熒光鍍層測厚儀,有着非破坏,非接觸,多層合金測量,高生產力,高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量 ,從質
量管理到成本節約有着廣氾的應用。
行業
用於電子元器件,半導體,PCB,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器……多個行業表面鍍層厚度的測量。
技術參數
主要規格 規格描述
X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
准直器程控交換系統 最多可同時裝配6種規格的准直器
多種規格尺寸准直器任選:
-圓形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
樣品室
-樣品室結構 開槽式樣品室
-最大樣品台尺寸 610mm x 610mm
-XY軸程控移動範圍 標準:152.4 x 177.8mm
還有5種規格任選
-Z軸程控移動高度 43.18mm
-XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
-樣品觀察系統 高分辨彩色CCD觀察系統,標準放大倍數為30倍。(50倍和100倍觀察系統任選。)
激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統配置 IBM計算機
惠普或愛普生或佳能彩色噴墨打印機
分析應用軟件 操作系統:WindowsXP(OEM)中文平台
分析軟件包: SmartLink FP軟件包
-測厚範圍 可測定厚度範圍:取決于您的具體應用。
-基本分析功能 採用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
樣品種類: 鍍層、塗層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素範圍:Ti22 – U92
可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測,如Au karat評價
材料和合金元素分析,
材料鑑別和分類檢測
液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
元素光譜定性分析
-調整和校正功能 系統自動調整和校正功能,自動消除系統漂移
-測量自動化功能 鼠標激活測量模式:“Point and Shoot”
多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重複測量模式
測量位置預覽功能
激光對焦和自動對焦功能
-樣品台程控功能 設定測量點
連續多點測量
測量位置預覽
-統計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數據變動範圍、
數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
數據庫存儲功能
任選軟件:統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
-系統安全監測功能 Z軸保護傳感器
樣品室門開閉傳感器
●精度高、穩定性好
●強大的數據統計、處理功能
●測量範圍寬
●NIST認証的標準片
●全球服務及支持
付款方式︰ | TT |
---|---|