| 型號： | H、L、PCB |
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| 品牌： | - |
| 原產地： | 韓國 |
| 類別： | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器 |
| 標籤︰ | 金屬鍍層 , 測厚儀 , 全自動 |
| 單價： |
¥10000
/ 件
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| 最少訂量： | 1 件 |
| 最後上線︰2023/07/20 |
XRF2000,2020,鍍層測厚儀膜厚光學儀器，X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質成分，可用於材料的塗層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。
銅上鍍銀測厚儀XRF-2020膜厚儀
檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
儀器功能
全自動台面
自動雷射對焦
多點自動測量
XRF-2000鍍層測厚儀
XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能優越,而且價錢*
同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破坏性地得到準確的測量結果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品台，鐳射自動對焦系統，十字線自動調整。超大/開放式的樣品台，可測量較大的產品。可測量各類金屬層、合金層厚度等。
可測元素範圍：鈦（Ti） – 鈾（U） 原子序 22 – 92
准直器：固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統計功能
