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XRF2000熒光鍍層測厚儀器

型號:H、L、PCB
品牌:-
原產地:韓國
類別:電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器
標籤︰測厚儀 , 鍍層 , 全自動
單價: ¥10000 / 件
最少訂量:1 件
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深圳市仟鋰馬科技有限公司

免費會員广东省深圳市
最後上線︰2023/07/20

產品描述

XRF2000熒光鍍層測厚儀器,X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質成分,可用於材料的塗層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。

 

銅上鍍銀測厚儀XRF-2020膜厚儀

 

檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...

儀器功能

全自動台面
自動雷射對焦
多點自動測量

 

XRF-2000鍍層測厚儀


XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能優越,而且價錢*
同比其他牌子相同配置的機器,XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破坏性地得到準確的測量結果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品台,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整。超大/開放式的樣品台,可測量較大的產品。可測量各類金屬層、合金層厚度等。

型号详情图.png

可測元素範圍:鈦(Ti) – 鈾(U)  原子序 22 – 92
准直器:固定種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析 統計功能


產品圖片

XRF2000熒光鍍層測厚儀器 1
圖 1
XRF2000熒光鍍層測厚儀器 2
圖 2
XRF2000熒光鍍層測厚儀器 3
圖 3
XRF2000熒光鍍層測厚儀器 4
圖 4
XRF2000熒光鍍層測厚儀器 5
圖 5

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