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  WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC等高分子材料，是Photonic lattic公司以其領先世界的光子晶體製造技術開發的產品，獨特的測量技術，高速而又精確的測量能力使其成為不可多得的光學測量產品。 該產品在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。可測數千nm高相位差分布的萬能機器，最適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。

主要特點:

• 操作簡單，測量速度可以快到3秒。
• 採用ＣＣＤ Camera，視野範圍內可一次測量，測量範圍廣。
• 測量數據是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數據。
• 具有多種分析功能和測量結果的比較。
• 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。
• 可測樣品尺寸更大。

主要應用： 

· 光學零件（鏡片、薄膜、導光板）

· 透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

· 透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

· 透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鑽石）

· 有機材料（球晶、FishEve）
 

 技術參數：

測量案例：

 

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